Équipement de test automatisé

Les modules de puissance haute densité et haut rendement de Vicor permettent aux ingénieurs de conception de systèmes ATE de mettre en œuvre des architectures de réseau de distribution de puissance (PDN) qui permettront d'augmenter le nombre de broches de la tête de test dans une tête de test de taille identique voire plus petite. Les circuits intégrés des data centers, de l'armée, de l'automobile et de l'industrie consomment des quantités toujours plus importantes d'énergie et présentent de nombreux niveaux de tension différents. L'approche modulaire de Vicor en matière de PDN permet aux fabricants d'ATE d'adapter facilement les niveaux de puissance et de prendre en charge différentes tensions afin de permettre un développement et une mise sur le marché rapides.

Les fabricants de semi-conducteurs exigent de plus en plus des entreprises d'équipements de test automatisés (ATE) qu'elles conçoivent des systèmes de test capables de répondre à la demande sans cesse croissante de circuits intégrés, de manière rapide et fiable, et avec le moins de coûts supplémentaires possible. Les fabricants de circuits intégrés considèrent les coûts de test (CoT) comme un soustracteur qui, bien qu'il soit nécessaire, ne fait que réduire les marges des produits, exige un espace de plus en plus grand dans les usines et n'améliore ni la durée du cycle ni le rendement. Les fabricants de systèmes ATE doivent mettre au point des systèmes de test qui répondent aux besoins techniques des circuits intégrés, ne contribuent pas aux pertes de rendement et occupent autant voire moins d'espace dans les usines que la génération remplacée.