Éliminer le goulet d'étranglement des signaux à ultra-haute vitesse — Présentation de la nouvelle arme de protection DES/EOS

À une époque où les interfaces à haute vitesse telles que Thunderbolt 4, PCIe 5 et USB4 fonctionnent à plein régime, vous fiez-vous toujours à la protection TVS traditionnelle ? Vous ne vous en rendez peut-être pas compte, mais ces dispositifs de protection familiers sont discrètement devenus des obstacles qui limitent les performances du signal.

L'expert en protection DES/EOS, taillé sur mesure pour les interfaces à haute vitesse

Tout récemment lancé, le modèle AZ5BFS-01M d'Amazing est un dispositif de protection contre les décharges électrostatiques à capacité ultrafaible, spécialement conçu pour les interfaces de signaux haute vitesse de nouvelle génération. Fonctionnalités clés :

  • Perte d'insertion de seulement 0,25 dB à 10 GHz — Préservation de l'intégrité du signal sans faire de compromis dans les applications hautes performances
  • Capacité ultrafaible de seulement 0,18 pF — Réduction significative du risque d'interférence des signaux
  • Boîtier MCSP 0201 (0,63 mm × 0,33 mm × 0,25 mm) — Taille ultra-compacte permettant de gagner de l'espace sur le circuit imprimé, ce qui est idéal pour les dispositifs ultra-minces et les implantations denses
  • Conformité à la norme CEI 61000-4-2 niveau 4 — ±15 kV de décharge dans l'air / ±9 kV de décharge par contact, idéal pour relever les défis quotidiens des applications USB4/Type-C

(Source de l'image : Amazing)

Pourquoi les dispositifs TVS traditionnels détruisent-ils les signaux à haute vitesse ?

À des vitesses de signal dépassant 10 à 20 Gbps, telles que celles de l'USB4 et du Thunderbolt 4, la perte d'insertion (S21) des diodes TVS provoque une grave distorsion harmonique à des fréquences de l'ordre du GHz, entraînant ce qui suit :

  • Dégradation du signal RF (perte SNR)
  • Désensibilisation sans fil au niveau du système
  • Échecs des tests de protocoles de communications à haute vitesse

Ces problèmes ont des répercussions directes sur le rendement du système et l'expérience utilisateur, en particulier dans les environnements USB-C qui intègrent l'alimentation et les données, où même une légère dégradation du signal peut entraîner des défaillances critiques.

Dans quelle mesure l'AZ5BFS-01M résout-il le problème ?

Avec sa perte d'insertion exceptionnellement faible (0,25 dB à 10 GHz) et sa technologie avancée de blocage déclenchée par effet Snapback, l'AZ5BFS-01M garantit une transmission propre des signaux à haute vitesse tout en offrant une suppression robuste des transitoires. Applications possibles :

  • Protection de port USB4/Type-C
  • Connecteurs et lignes de données Thunderbolt 3/4
  • Liaisons à haute vitesse PCIe Gen4 / Gen5
  • Dispositifs AIoT, stations de travail et ordinateurs portables haut de gamme

Plus important encore, l'AZ5BFS-01M peut être déployé directement à proximité du port de connexion, ce qui accélère la réponse DES et évite les interférences induites par les longues pistes avec les performances de protection.

Conclusion : Préparez-vous à accueillir le protecteur des dispositifs haute vitesse de nouvelle génération !

L'AZ5BFS-01M n'est pas seulement compact, il est aussi puissant. Dans un monde où le débit de données ne cesse d'augmenter, choisir le bon dispositif de protection est essentiel pour libérer tout le potentiel d'un produit et garantir son adéquation aux attentes des utilisateurs et du marché.

Vous voulez exceller dans le domaine de la transmission à haute vitesse ? Commencez avec l'AZ5BFS-01M et créez une expérience utilisateur vraiment solide et performante.

À propos de l'auteur

Image of Dunken Lee

Dunken Lee is an engineer with over 20 years of experience and an unwavering passion for ESD/EOS protection. Ever since the first IC he saw fell victim to electrostatic discharge, he’s made it his mission to become a "guardian" of electronic systems—protecting every critical signal with precision and care. Dunken truly believes that a tiny TVS diode holds the key to a system’s long-term reliability. Through this platform, he hopes to share insights that help fellow engineers avoid trial-and-error and achieve faster breakthroughs, building a more reliable future—one spark of positive energy at a time!

More posts by Dunken Lee
 TechForum

Have questions or comments? Continue the conversation on TechForum, DigiKey's online community and technical resource.

Visit TechForum